牛津仪器(oxford)公司创建于1959 年,在x射线荧光镀层测厚仪技术领域拥有超过35年研发和制造经验,其生产的cmi900型x射线荧光镀层测厚仪,具有非破坏、非接触、多层合金测量、高重现性、高准确度等特点,厚度测量精度可达0.01微米;可检测元素范围从22号元素ti到92号元素u;可同时测定5层镀层,同时测量15种元素;可做贵金属检测,如au karat评价;可应用于材料和合金元素分析、材料鉴别和分类检测;可应用于液体样品分析,如镀液中的金属元素含量检测;广泛应用于电子元器件,半导体,pcb,汽车零部件,五金电镀,装饰件电镀,连接器电镀、钢丝绳电镀等多个行业,在镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 等各方面,从质量管理到不良品分析都有着广泛的应用。
cmi900型x射线荧光镀层测厚仪基于windows2000中文视窗系统的中文版smartlink fp应用软件包,实现了对cmi900主机的全面自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定;数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、cad文件等;统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、小值、数据变动范围、相对偏差、ucl(控制上限)、lcl(控制下限)、cpk图、直方图、x-bar/r图等多种数据分析模式;能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点小可达0.025 x 0.051毫米。
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